EN

+7(495) 926-37-59
spm@nanoscopy.ru

Обучающий курс «Сканирующая зондовая микроскопия»

Практикум по наноскопии – широкий набор оборудования, обучающих программ и презентаций для экспериментального изучения наноскопии – наиболее эффективный способ обучения современных студентов нанотехнологиям.

«Фемтоскан Онлайн Практикум» – полностью оборудованная лаборатория на 7-25 рабочих мест. Студенты в лаборатории получают первоначальные знания нанотехнологии за 5-6 занятий. Более подробное изучение может быть достигнуто посредством Интернет доступа к лаборатории (из дома, лаборатории или интернет-кафе).

Класс ФемтоСкан Онлайн включает:

  • один или несколько микроскопов ФемтоСкан с программой ФемтоСкан Онлайн

  • автоматизированные рабочие места для обработки данных

  • система безопасности и система контроля доступа

  • высокоскоростная сеть с центральным сервером

  • программное обеспечение для работы с микроскопом, обработки данных

  • набор программ для демонстрации возможностей нанотехнологий

  • учебное пособие по нанотехнологии

 

Программа курса обучения работе на СЗМ ФемтоСкан

  • 1.Введение
    • a.a.Принципиальная схема СЗМ
      • I.Система позиционирования
      • II.Зонд и система определения его состояния
      • III.Система обратной связи
    • b.b.Сканирование поверхности
      • I.С использованием обратной связи
      • II.Без использования обратной связи
    • c.Общая методика измерений
      • I.Подготовка образца и микроскопа
      • II.Измерение поверхности и подстройка параметров
      • III.Обработка результата и интерпретация полученных данных
  • 2.Терминология
    • a.Кантилевер
    • b.Зонд
    • c.Держатель
    • d.Головка
    • e.Столик
  • 3.Сканирующий зондовый микроскоп ФемтоСкан
    • a.Общий вид
    • b.Механическая часть
    • c.Электронный блок
    • d.Сканирующие головки
      • IЭлектронный блок
      • IIЭлектронный блок
  • 4.Принципиальные схемы микроскопа при работе в различных режимах
    • a.Атомно-силовая микроскопия
    • b.Сканирующая резистивная микроскопия
    • c.Резонансная атомно-силовая микроскопия
    • d.Туннельная микроскопия
  • 5.Измерения в режиме сканирующего туннельного микроскопа
    • a.Подготовка образца, обеспечение омического контакта с образцом
      • I.На образец
      • II.На специальный столик под образцом
    • b.Установка образца на сканирующий столик
    • c.Подготовка иглы
    • d.Установка иглы в туннельную головку
    • e.Подсоединение головки к механической части
    • f.Установка головки над образцом
    • g.Предварительный подвод иглы к поверхности
    • h.Экранирование микроскопа от внешних помех
    • i.Начальные установки управляющих параметров
    • j.Подвод к поверхности
    • k.Выбор рабочей точки
    • l.Сканирование поверхности
    • m.Снятие кривых зависимости туннельного тока от расстояния
    • n.Снятие вольтамперных характеристик туннельного перехода
    • o.Обработка экспериментальных данных. Дифференциальная вольтамперная характеристика туннельного перехода.
  • 6.Измерения в режиме атомно-силового микроскопа
    • a.Подготовка образца
    • b.Установка кантилевера в держатель
    • c.Установка держателя в головку
    • d.Настройка лазера
      • I.На кантилевер по дифракции
      • II.На край (иглу) по отраженному пятну
      • III.На фотодиод по сигналу в окне фотодиода
    • e.Установка образца на сканирующий столик
    • f.Установка головки над образцом
    • g.Начальные установки управляющих параметров
    • h.Подвод к поверхности
    • i.Снятие кривых зависимости силы от расстояния
    • j.Выбор рабочей точки
    • k.Сканирование поверхности
    • l.Режим измерения латеральных сил
    • m.Определение упругих свойств поверхности
    • n.Обработка полученных изображений
  • 7.Измерения в режиме сканирующего резистивного микроскопа
    • a.Подготовка образца, обеспечение омического контакта с образцом
      • I.На образец
      • II.На специальный столик под образцом
    • b.Установка кантилевера в держатель, обеспечение контакта с зондом
    • c.Подсоединение резистивного кабеля
      • I.К головке
      • II.К держателю
      • III.К образцу
    • d.Установка держателя в головку
    • e.Настройка лазера
      • I.На кантилевер по дифракции
      • II.На край (иглу) по отраженному пятну
      • III.На фотодиод по сигналу в окне фотодиода
    • f.Установка образца на сканирующий столик
    • g.Установка головки над образцом
    • h.Проверка сигнала проводимости
    • i.Дополнительное экранирование микроскопа от внешних помех
    • j.Начальные установки управляющих параметров
    • k.Предварительное позиционирование сканера
    • l.Подвод к поверхности
    • m.Снятие кривых зависимости силы от расстояния
    • n.Снятие кривых зависимости силы тока от напряжения
    • o.Выбор рабочей точки
    • pСканирование поверхности
    • q.Обработка полученных изображений
    • r.Расчет контактного сопротивления и локальной проводимости поверхности
  • 8.Измерения в режиме резонансного атомно-силового микроскопа
    • a.Подготовка образца
    • b.Установка кантилевера в держатель
    • c.Подсоединение кабеля возбуждающего напряжения
    • d.Установка держателя в головку
    • e.Настройка лазера
      • I.На кантилевер по дифракции
      • II.На край (иглу) по отраженному пятну
      • II.На фотодиод по сигналу в окне фотодиода
    • f.Установка образца на сканирующий столик
    • g.Установка головки над образцом
    • h.Начальные установки управляющих параметров
    • i.Настройка на резонанс кантилевера
    • j.Подвод к поверхности
    • k.Снятие кривых зависимости амплитуды колебаний от расстояния
    • l.Выбор рабочей точки
    • m.Сканирование поверхности
    • n.Фазовое изображение
    • o.Обработка полученных изображений
  • 9.Основные навыки работы с программным обеспечением
    • a.Клиентская программа FemtoScan Online
    • b.Программа Fmboard для управления сервером микроскопа
    • c.Подсоединение к микроскопу
    • d.Панель инструментов управления микроскопом
    • e.Окно параметров сканирования — основное рабочее окно
    • f.Основные режимы работы микроскопа
    • g.Запуск процессов сканирования
    • h.Основные операции работы с изображениями
      • I.цветовые шкалы
      • II.усреднение по строкам
      • III.выравнивание поверхности
      • IV.применение различных фильтров
      • V.Фурье-спектр изображения
      • VI.трехмерное представление поверхности
      • VII.построение сечений и измерение высот объектов
      • VIII.функция нахождения объектов

Заказать

Сделать заказ

Обучающий курс «Сканирующая зондовая микроскопия»

Отправить
Закрыть

Регистрация

* - обязательное поле
*Код с картинки
Регистрация
Закрыть